中心切割二维分析
该方案由中心切割器Deans switch，高速切换阀，及超低温冷阱组成，可安装在现有GC或GCMS上进行升级。将经过第一维柱分离的特定保留时间窗口内的组分切割到另一路，冷阱捕集后快速释放到第二维柱进行再次分离，在一维柱中分离不好的组分在不同极性的二维柱上可能实现更好的分离，从而提高对目标组分的定性定量准确性。在二次分离前通过冷阱，可将经过一维分离后的峰进行聚焦，显著减少二次进样峰宽，提高分析灵敏度和分离度。
中心切割二维和嗅闻联用
在中心切割二维系统上增加嗅闻仪及相应配件，可实现在一维和二维模式下均可进行嗅闻和质谱的同时分析。一维模式下，所有组分经过一维色谱柱分离后，分流进入质谱和嗅闻仪。二维模式下，选择其中一个保留时间区域，将其切割出来送入冷阱进行捕集，并释放到二维柱进行分离，然后分流后同时进入质谱和嗅闻仪。
支持在现有GC或GC-MS平台上升级
提供系统搭建、联调测试、条件优化、方法开发、培训等技术支持和服务
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